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德瑞光电半自动BAR条高精度测试机
材料来源:激光行业观察           录入时间:2021/11/19 22:05:14

近日,江西德瑞光电成功向客户交付一台半自动 BAR 条高精度测试机,该设备是德瑞 光电公司完全自主研发的,功能模块可配置的、一体化的半导体激光芯片测试设备,主要针 对边发射半导体激光裸芯片的重要技术参数实现全面、准确和快速检测和分析。在 CW 或 QCW 通电下,通过在可控温度工作台上自动测试其光功率、电气、波长、FFP(远场发散 角图形)等特性,并输出测试结果和判断产品是否合格。 

设备采用 BAR 条测试自动化设计思想,配置工业视觉系统,能够自动完成 BAR 条的位 置校正、分类、识别、定位,形成 MAPPING 图,实现自动化测试,并将测试结果与 MAPPING 图对应,实现准确的定位、追溯。设备运动定位精度为μm 级,LIV 扫描速度最高可达 5ms/Point,测量数据一致性差异小于 2%,具有快速测试、测量精度高、一致性好的特点, 达到行业领先水平。 

为保证测试电连接及防止芯片受损,设备配置针压可视的探针座,通过监控界面实时显示针压大小,最多可支持 4 个探针座在线监控,压力值分辨率可达 0.01g,方便用户使用。 

设备可配置 Keithley、Keysight、Newport 系列可编程源表以及其它国内测试电源, 可配置海洋、日立、横河等光谱仪或光谱分析仪,实现光功率、电气、波长、FFP(远场发 散角图形)等特性参数的精确测量,满足科研开发需求。 

设备配置标准的 TEC、冷水机温度控制系统,测试台可实现 15℃至 85℃的快速温度控 制,温度控制精度±0.1℃。

设备各功能模块化设计,可根据需要进行配置。根据客户需求可实现半自动化与全自动 化功能,全自动化可实现 BAR 条的自动上下料,甚至按照设定的 BIN 等级进行下料分选。 全功能测试时,半自动化设备最快平均测试速率可达 11s/颗(不包含人工上下料时间),全自动化设备最快平均测试速率可达 13s/颗(含自动上下料)。一名熟练的测试员可照看数台 测试设备,适用于量产需要。 

(文章转载自网络,如有侵权,请联系删除)


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