视频      在线研讨会
光纤激光器 半导体激光器 激光切割
产品快讯
精度可代替进口产品的Beamfiler光斑质量分析仪
材料来源:光电资讯           录入时间:2021/3/16 23:59:07

光研科技自主研发的光斑分析仪Beamfiler可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。产品精度可以完全代替进口激光光束质量分析仪。

通过光束分析装置一体化设计,配套衰减方案设计,最小可测量直径40μm光斑,支持实时曝光及增益调节。

该系统可以对连续可见激光光斑进行采样,分析得到激光光斑中心,半径,椭圆比等,并对光强能量场进行二维和三维显示。可广泛用于需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用。也常用于光学器件质量检查,激光腔镜调整,外光路准直,光纤对准耦合分析等。

自光研科技推出自研产品Beamfiler光斑质量分析仪以来,已得到了国内多家企业和科研院所的测试和使用。考虑到光斑质量分析仪需求量巨大且国外产品价格高昂,光研科技已正式开展光束质量分析仪定制化服务。目前已作为成熟产品在市场推广,性价比很高,得到大量客户认同。

光研科技给客户做的每个测试都会根据的具体需求做出最合理的解决方案,并尽可能提供相应的公式或者依据。光研科技立志为更多的光学企业提供更优质的光束质量分析系统!


上一篇:凯普林推出国内首款1000W-330μm芯... 下一篇:NIST研发新型激光测微仪

版权声明:
《激光世界》网站的一切内容及解释权皆归《激光世界》杂志社版权所有,未经书面同意不得转载,违者必究!
《激光世界》杂志社。



激光世界独家专访


 
 
 
 
友情链接

SMT China

洁净室

激光世界

微波杂志

视觉系统设计

化合物半导体

工业AI

半导体芯科技

首页 | 关于我们 | 联络我们
Copyright© 2021: 《激光世界》; All Rights Reserved.
备案序号:粤ICP备12025165号-3