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产品快讯
WDM 无源器件PDL/IL测试系统
材料来源:LFWC           录入时间:2020/7/17 23:51:47

Santec对 Swept Test System有着严格的测试标准,利用以高分辨率和高精度为标准的高速分析测试解决方案,结合Santec的TSL系列可调谐激光器、多通道光功率计(MPM-210)、偏振控制器(PCU-100)和自定义软件相组合,通过实时记录可以同时获取可调激光器的输出功率与经过DUT的传输功率,从而精确计算出WDL/PDL的数值。采用Mueller矩阵生成快速的PDL测量方案,通过采样和缩放算法在保持测试方案完整性上可以保持最大测试性能输出,尤其适合测量波分复用(WDM)滤波器、光开关、AWG、耦合器等无源光学元器件。

更多信息:www.santec.com.cn(Santec Corporation


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