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Santec重磅发布新一代测试利器:极性、插损、回损一体化测试探头RD-SP
材料来源:santec 圣德科           录入时间:2024/12/23 23:19:37

随着数据中心、5G、千兆光网、算力等新型信息基础设施建设的高速发展,特别是在数据中心领域,由人工智能应用驱动的光缆需求激增,对于光纤光缆行业带了更多的挑战,快速的技术更新迭代让光纤光缆行业经历着前所未有的技术创新与升级。

因此光纤光缆的性能测试也成为了各家厂家关注的重点,为了提高测试效率,Santec 重磅推出集Polarity(极性)、insertion Loss(插入损耗)和Return Loss(回波损耗)于一体的RD-SP探头,RD-SP集成了Santec 新一代Gen2积分球和极性测试技术,搭配Santec高精度快速插回损测试仪RLM-100和光开关OSX-100,极大提高了测试效率。

RD-SP 特点 

  • 一次连接完成所有参数测试:Polarity / insertion Loss / Return Loss测试。
  • 支持多个探头的复杂路由测试系统:外置型探头便于测试系统灵活配置搭建,配合RLM-100和OSX-100可最多连接16个RD-SP探头,实现复杂场景的测量。
  • 配套软件支持批量生产:服务器端XNS和操作端Cable assembly software的搭配使用,适合于自动化批量生产环境。
  • 行业领先的测试速度:快速测量模式下测试一根MPO-12跳线两个波长的极性/IL/RL总测试时间仅需35秒(在两个波长下插损和回损的测试时间仅需30秒(快速测量模式)。
  • Multifiber assemblies测试:例如MPO、MMC和duplex LC等。

一种复杂路由场景的应用

同时用2个RD-SP来测试复杂的光纤路由系统,实现一次连接测试极性、插损和回损。

文章来源:santec 圣德科

注:文章版权归原作者所有,本文仅供交流学习之用,如涉及版权等问题,请您告知,我们将及时处理。


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